El catálogo de equipos Bruker de Difracción de Rayos X y Scattering permite el análisis detallado de cualquier material desde la investigación fundamental hasta control de calidad, proporcionando soluciones avanzadas para el día a día de los clientes. Las aplicaciones de estas técnicas cualitativas y cuantitativas incluyen:

• Identificación de Fases
• Análisis Cuantitativo
• Determinación de Estructura Cristalina
• Análisis PDF (total scattering)
• Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)
• Reflectrometría de Rayos X (XRR)
• Difracción de Rayos X de Alta Resolución (HRXRD)
• Mapeo en el Espacio Recíproco (RSM)
• Estrés Residual
• Textura (figuras de polo)