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Difractometría Rayos-X (XRD)

El catálogo de equipos Bruker de Difracción de Rayos X y Scattering permite el análisis detallado de cualquier material desde la investigación fundamental hasta control de calidad, proporcionando soluciones avanzadas para el día a día de los clientes. Las aplicaciones de estas técnicas cualitativas y cuantitativas incluyen:

  • Identificación de Fases
  • Análisis Cuantitativo
  • Determinación de Estructura Cristalina
  • Análisis PDF (total scattering)
  • Dispersión de rayos X a bajo ángulo (SAXS)
  • Reflectrometría de Rayos X (XRR)
  • Difracción de Rayos X de Alta Resolución (HRXRD)
  • Mapeo en el Espacio Recíproco (RSM)
  • Estrés Residual
  • Textura (figuras de polo)


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